XTU-BL X荧光光谱仪

XTU-BL X荧光光谱仪

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     性能优势:
 
    下照式设计:可以快速方便地定位对焦样品。
 
    无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测,凹槽深度范围0-90mm。
 
    微聚焦射线装置:可检测面积小于0.002mm2的样品,可测试各微小的部件。
 
    高效率的接收器:即使测试0.01mm2以下的样品,几秒钟也能达到稳定性。
 
    EFP先进算法软件:多层多元素,甚至有同种元素在不同层也难不倒EFP算法软件。
 
 
    仪器规格:
 
    外形尺寸 :550 mm x 660mm x 470 mm (长x宽x高)
 
    样品仓尺寸 :500mm×660 mm ×215mm (长x宽x高)
 
    仪器重量 :55kg
 
    供电电源 :交流220±5V
 
    最大功率 :330W
 
    环境温度:15℃-30℃
 
    环境相对湿度:<70%