油品中如汽油、柴油等样品中的硫、氯、硅、磷的快速分析
◎E-lite500-技术参数
型号 | E-lite500 (油品中硫氯硅磷含量分析) |
测量方法 | HPXRF -高精度X射线荧光光谱法 |
检测对象 | 固体，液体，粉末 |
最佳元素范围 | S、Cl、Si、P |
测试含量范围 | S 0.5ppm-10%；Cl 0.5ppm-10%；Si 1.5ppm-10%; P 0.5ppm-10% |
样品室环境 | 常压大气 |
X射线管 | 30kV max，1mA max，25W max |
探测器 | 高性能fastSDD，分辨率≤125eV |
高压电源 | 30kV max，1mA max，30W max |
光学系统 | 双曲面弯晶， 高效率单色聚焦X射线源 |
数据处理平台 | 工业电脑：CPU主频1.5 GHz, 4核; LPDDR4 2GB内存; 64GB闪存; 屏幕尺寸：7寸屏幕像素：800*480 pixels |
软件 | 运行环境： Linux操作系统 算法优势：基本参数FP法，样品类型适用性强， 且分析结果准确 功能特点：使用简便，傻瓜式操作；功能丰富； 配置灵活 |
测量时间 | 30-300S |
测量模块 | 油品中硫、氯、硅、磷等元素含量，高硫样品中低氯含量 |
典型元素检出限 | S≤0.5ppm，Cl≤0.5ppm，Si≤1.5ppm， P≤0.5ppm |
重复性 | 样品连续测试7次RSD≤10% |
工作环境 | 温度 -5℃ -50℃ ，湿度20% -85% |
电源 | AC/DC 电源适配器：100-240VAC, 50/60Hz |
重量 | 10.5kg，不含选配件 |
外型尺寸(cm) | 35 cm (L) x 26 cm (W) x 27 cm(H) |
E-lite500采用高精度X射线荧光分析技术（HPXRF）。与传统的X射线荧光技术相比，该技术使用了先进的双曲面弯晶晶体，降低背景噪声， 大幅提高信噪比，提高产品分析精度 采用“侧照式”样品将被从侧方重直置入仪器内部。该创新设计可确保避免意外泄漏的任何样品不接触仪器中贵重部件，以方便清理和维护，避免重大损失。 常压大气环境即可完成快速准确定量分析液体、粉末等样品中的硫、氯、硅、磷等轻元素，大幅降低测试成本，在轻基体下检出限可以低至 ppm级别。基于 HPXRF 技术，E-lite500 可以快速准确定量分析液体、粉末等样品中的硫、氯、硅、磷等轻元素，在轻基体下检出限可以低至 ppm 级别；针对食品中铝、磷、钾以及工业应用中轻元素有出色的分析性能。
方法合规性：ASTM D4294 , ISO 8754 &IP336, ASTM D7220等标准方法
测量时间：30-1200 秒
元素范围：Mg-Ca之间的8种元素
数据存储及输出：打印输出、以太网、USB、内部存储器、U盘
I/O 端口：以太网 10/100、USB
电源：110-240 VAC ± 10%，50-60 Hz
工作温度：-5°C ~ 50°C
工作湿度：30 - 85 %
探测器：高分辨率硅漂移探测器
晶体：双曲面弯晶（DCC）
重量：＜10kg
尺寸：238mm W x 350mm L x 260mm H
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